Recenzii Atomic Force Microscopy

Atomic Force Microscopy

Atomic Force Microscopy

Autorul nu este prezentat
6 033,35 lei
Vizualizează cartea
After the introduction of the optical microscope, a second breakthrough in morphostructural surface analysis occurred in the 1940s with the development of the scanning electron microscope (SEM), which, instead of light (i. citește totul 

Recenzii

0
Recenziile verificate sunt marcate în mod explicit, celelalte nu sunt verificate.
Aici nu sunt deloc recenzii. Fiți primul și scrieți-o pe a voastră!