Conductive Atomic Force Microscopy (engleză)

· Wiley-VCH · 2017 · legată · 362 pagini

Conductive Atomic Force Microscopy (engleză)

3 382,31 lei
3 382,31 lei
Preț mai mic cu 11 % față de prețul recomandat
Preț normal 3 803,13 lei
Produsul nu este disponibil momentan.
Vizualizați alternativele disponibile.
Foreword Preface Introduction to CAFM: History, Experimental and Current Status Reliability of Polycrystalline Thin Oxides and Insulators Investigation of High-k Dielectric Stacks by TUNA and CAFM: Advantages, Limitations and Applications 3D Tomography for Analyzing Conductive Filaments for... citește totul 
Conductive Atomic Force Microscopy (engleză)
Produsul nu este disponibil momentan.
3 382,31 lei
  • Poate vă atrage
  • Alte cărți ale autorului
  • Alte cărți ale editurii
  • Ultimele vizualizate
  • Autori similari

Autori similari

Recenziile verificate sunt marcate în mod explicit, celelalte nu sunt verificate.
Aici nu sunt deloc recenzii. Fiți primul și scrieți-o pe a voastră!
Váš avatar
Alegeți
Prenume
Recenzia dvs.
0

Cartea vizitelor

Postările astfel marcate sunt autentificate, celelalte sunt neautentificate.

Cooperare engros

Dacă aveți un sortiment interesant, nu ezitați să ne contactați. Oferim comenzi interesante, plăți rapide și o cooperare cu respect.

angrosisti@megacarti.ro

Doar persoanele cu vârsta de peste 18 ani pot cumpăra alcool.

Vă rugăm să confirmați că aveți deja 18 ani.